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사이리스터 소자의 수명예측을 위한 열화진단기술
The Aging Diagnostic Technology for Predicting Lifetime of Thyristor Devices
- 김병철;
- 김형우;
- 서길수
초록
The accelerated aging test equipment which is possible to apply voltage and temperature at the same time, is fabricated to predict lifetime of high capacity thyristor in short time. The variations of the forward/reverse breakdown voltage and the leakage current are investigated as an aging diagnostic tool. Lifetimes of the devices which are predicted from the reverse breakdown voltage with an accelerated aging time, have shown 3-15 years.
키워드
Thyristor; Accelerated aging test equipment; Voltage; Temperature; Device lifetime; Thyristor; Accelerated aging test equipment; Voltage; Temperature; Device lifetime
- 제목
- 사이리스터 소자의 수명예측을 위한 열화진단기술
- 제목 (타언어)
- The Aging Diagnostic Technology for Predicting Lifetime of Thyristor Devices
- 저자
- 김병철; 김형우; 서길수
- 발행일
- 2007
- 저널명
- 전기전자재료학회논문지
- 권
- 20
- 호
- 3
- 페이지
- 197 ~ 201
- 출판사
- 한국전기전자재료학회
- 발행국가
- 대한민국
- 분량
- 5 페이지
- ISSN
- E 2288-3258
P 1226-7945