In-situ 분석을 통한 모드 전이형 멤리스터의 전기 전도 메커니즘 규명
In-situ Investigation of Electrical Conduction Mechanisms in Dual-Mode Memristors

초록

본 연구에서는 하나의 MIM 구조 내에서 강유전성과 저항성 스위칭 특성을 선택적으로 구현할 수 있는 이중 모드 멤리스터를 제안하였다. 비가역적 모드 전이를 통해 소자는 강유전성 멤리스터로 먼저 동작한 후, 안정적인 저항성 멤리스터로 전환된다. In-situ방식의 I-V 피팅 결과, 강유전성 모드에서는 DT-FN 터널링 및 Poole-Frenkel 방출이, 저항성 모드에서는 SCLC 메커니즘이 지배적으로 작용함을 확인하였다. 하나의 소자 내에서 전도 및 기억 특성을 선택적으로 제어할 수 있다는 점은 단기 및 장기 기억 특성이 동시에 요구되는 PIM 기반 인공지능 컴퓨팅 구조에 유망한 차세대 메모리 후보임을 시사한다.

키워드

MemristorProcessing‑in‑MemoryFerroelectricResistive switchingIn-situ analysis
제목
In-situ 분석을 통한 모드 전이형 멤리스터의 전기 전도 메커니즘 규명
제목 (타언어)
In-situ Investigation of Electrical Conduction Mechanisms in Dual-Mode Memristors
저자
이동구이정규
발행일
2025-12
유형
Y
저널명
전기전자학회논문지
29
4
페이지
433 ~ 438