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In-situ 분석을 통한 모드 전이형 멤리스터의 전기 전도 메커니즘 규명
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이동구 | - |
| dc.contributor.author | 이정규 | - |
| dc.date.accessioned | 2026-01-09T02:30:16Z | - |
| dc.date.available | 2026-01-09T02:30:16Z | - |
| dc.date.issued | 2025-12 | - |
| dc.identifier.issn | 1226-7244 | - |
| dc.identifier.issn | 2288-243X | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.gnu.ac.kr/handle/sw.gnu/81712 | - |
| dc.description.abstract | 본 연구에서는 하나의 MIM 구조 내에서 강유전성과 저항성 스위칭 특성을 선택적으로 구현할 수 있는 이중 모드 멤리스터를 제안하였다. 비가역적 모드 전이를 통해 소자는 강유전성 멤리스터로 먼저 동작한 후, 안정적인 저항성 멤리스터로 전환된다. In-situ방식의 I-V 피팅 결과, 강유전성 모드에서는 DT-FN 터널링 및 Poole-Frenkel 방출이, 저항성 모드에서는 SCLC 메커니즘이 지배적으로 작용함을 확인하였다. 하나의 소자 내에서 전도 및 기억 특성을 선택적으로 제어할 수 있다는 점은 단기 및 장기 기억 특성이 동시에 요구되는 PIM 기반 인공지능 컴퓨팅 구조에 유망한 차세대 메모리 후보임을 시사한다. | - |
| dc.format.extent | 6 | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | KOR | - |
| dc.publisher | 한국전기전자학회 | - |
| dc.title | In-situ 분석을 통한 모드 전이형 멤리스터의 전기 전도 메커니즘 규명 | - |
| dc.title.alternative | In-situ Investigation of Electrical Conduction Mechanisms in Dual-Mode Memristors | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.publisher.location | 대한민국 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 전기전자학회논문지, v.29, no.4, pp 433 - 438 | - |
| dc.citation.title | 전기전자학회논문지 | - |
| dc.citation.volume | 29 | - |
| dc.citation.number | 4 | - |
| dc.citation.startPage | 433 | - |
| dc.citation.endPage | 438 | - |
| dc.type.docType | Y | - |
| dc.identifier.kciid | ART003289595 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Memristor | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Processing‑in‑Memory | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Ferroelectric | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Resistive switching | - |
| dc.subject.keywordAuthor | In-situ analysis | - |
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