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비균일 채널에서의 저밀도 패리티 검사 부호의 설계 방법 및 장치
Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김재원 | - |
| dc.contributor.author | 곽웅신 | - |
| dc.date.accessioned | 2025-10-31T13:01:26Z | - |
| dc.date.available | 2025-10-31T13:01:26Z | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.gnu.ac.kr/handle/sw.gnu/80446 | - |
| dc.title | 비균일 채널에서의 저밀도 패리티 검사 부호의 설계 방법 및 장치 | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.publisher.location | 대한민국 | - |
| dc.contributor.assignee | 경상국립대학교 산학협력단 | - |
| dc.date.application | 2024-01-12 | - |
| dc.date.registration | 2025-09-04 | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-2857542 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2024-0005263 | - |
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Collections - ETC > Patents
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