Detailed Information
Cited 4 time in 
Cited 5 time in 
Cited 5 time in
Metadata Downloads
Study of (<i>B</i>)over-bar<SUP>0</SUP> → <i>D</i><SUP>+</SUP><i>h</i><SUP>-</SUP> (<i>h</i> = <i>K</i>/π) decays at Belleopen access
- Authors
- Waheed, E.; Urquijo, P.; Adachi, I; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V; Aushev, T.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Belous, K.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V; Bhuyan, B.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Borah, J.; Bozek, A.; Bracko, M.; Branchini, P.; Browder, T. E.; Budano, A.; Campajola, M.; Cervenkov, D.; Chang, M-C; Chang, P.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S-J; Choi, S-K; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dolezal, Z.; Dong, T., V; Epifanov, D.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V; Gabyshev, N.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Graziani, E.; Gu, T.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W-S; Hsu, C-L; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Kichimi, H.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, K-H; Kim, K. T.; Kim, Y-K; Kinoshita, K.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kwon, Y-J; Lai, Y-T; Lange, J. S.; Laurenza, M.; Lee, S. C.; Li, J.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; MacQueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pang, T.; Park, H.; Park, S-H; Passeri, A.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Rohrken, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shiu, J-G; Simon, F.; Singh, J. B.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Stottler, Z. S.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M-Z; Wang, P.; Wang, X. L.; Wiechczynski, J.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V; Zhukova, V
- Issue Date
- Jan-2022
- Publisher
- AMER PHYSICAL SOC
- Citation
- Physical Review D, v.105, no.1
- Indexed
- SCIE
SCOPUS
- Journal Title
- Physical Review D
- Volume
- 105
- Number
- 1
- ISSN
- 2470-0010
2470-0029
- Abstract
- We present a measurement of the branching fractions of the Cabibbo favored (B) over bar (0) -> D+pi(-) and the Cabibbo suppressed (B) over bar (0) -> D+K- decays. We find B((B) over bar (0) -> D+pi(-)) = (2.48 +/- 0.01 +/- 0.09 +/- 0.04) x 10(-3) and B((B) over bar (0) -> D+K-) = (2.03 +/- 0.05 +/- 0.07 +/- 0.03) x 10(-4) decays, where the first uncertainty is statistical, the second is systematic, and the third uncertainty is due to the D+ -> K-pi(+)pi(+) branching fraction. The ratio of branching fractions of (B) over bar (0) -> D+K- and (B) over bar (0) -> D+pi(-) is measured to be R-D = [8.19 +/- 0.20(stat) +/- 0.23(syst)] x 10(-2). These measurements are performed using the full Belle dataset, which corresponds to 772 x 10(6) B (B) over bar pairs and use the Belle II software framework for data analysis.
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
- Appears in
Collections - 자연과학대학 > 물리학과 > Journal Articles
Items in ScholarWorks are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.