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비행 데이터 계측장비를 위한 점검 시스템 성능 개선
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김상범 | - |
| dc.contributor.author | 이순영 | - |
| dc.contributor.author | 남영호 | - |
| dc.date.accessioned | 2022-12-26T11:30:41Z | - |
| dc.date.available | 2022-12-26T11:30:41Z | - |
| dc.date.issued | 2021 | - |
| dc.identifier.issn | 2287-1322 | - |
| dc.identifier.issn | 2288-9671 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.gnu.ac.kr/handle/sw.gnu/5004 | - |
| dc.description.abstract | 항공기 개발과정 중 비행 계측장비를 통하여 획득된 비행 데이터는 항공기 개발 및 성능 개선에 중요한 역할을 한다. 따라서 비행 계측장비의 신뢰성 확보가 요구됨에 따라 비행 계측장비의 건전성을 점검하기 위한 점검 시스템이 매우 중요하다. 본 논문에서는 비행 데이터 계측장비의 기존 점검 시스템을 분석하여 점검 시스템의 하드웨어 및 소프트웨어 측면의 개선점을 제시한다. 이를 바탕으로 성능이 개선된 점검 시스템을 설계 및 구현하고, 시험 결과를 제시한다. 성능이 개선된 점검 시스템은 기존 점검 시스템보다 비용 절감과 유연한 적용, 그리고 유지보수성이 향상되었다. 따라서 계측장비의 건전성을 확보할 수 있어 비행 데이터의 신뢰성 향상을 기대할 수 있다. | - |
| dc.format.extent | 6 | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | KOR | - |
| dc.publisher | (사)한국스마트미디어학회 | - |
| dc.title | 비행 데이터 계측장비를 위한 점검 시스템 성능 개선 | - |
| dc.title.alternative | Improved Performance of the Test System for Flight Data Instrumentation Equipment | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.publisher.location | 대한민국 | - |
| dc.identifier.doi | 10.30693/SMJ.2021.10.3.54 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 스마트미디어저널, v.10, no.3, pp 54 - 59 | - |
| dc.citation.title | 스마트미디어저널 | - |
| dc.citation.volume | 10 | - |
| dc.citation.number | 3 | - |
| dc.citation.startPage | 54 | - |
| dc.citation.endPage | 59 | - |
| dc.identifier.kciid | ART002765159 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 비행 계측장비 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | PCM 인코더 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 유효성 점검 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 점검 시스템 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 서브랙 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Flight Instrumentation Equipment | - |
| dc.subject.keywordAuthor | PCM Encoder | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Validation Test | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Test System | - |
| dc.subject.keywordAuthor | Subrack | - |
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