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표면방사선 오염도 측정용 자동 스미어장치의 개발
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 탁한호 | - |
| dc.contributor.author | 강신출 | - |
| dc.date.accessioned | 2022-12-27T03:16:36Z | - |
| dc.date.available | 2022-12-27T03:16:36Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | - |
| dc.identifier.issn | 1229-3741 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.gnu.ac.kr/handle/sw.gnu/23899 | - |
| dc.description.abstract | 본 논문은 원자력시설내의 방사성 표면오염을 측정평가하기 위한 표면오염도 시료채취용 자동화 시료채취기 개발에 있다. 시료채취를 위한 간접법은 사람에 의한 수동적인 시료 채취방법으로서 시료를 채취하는 사람에 따라 문지르는 횟수, 강도 및 면적이 다르다. 이로 인하여 표면오염도 측정치의 정확도가 저하되고 시료 채취시마다 측정치의 오차가 많이 발생한다. 개발된 장치에 의한 방법은 기존방법에 의한 표면오염도의 측정치보다 smear paper의 방사성 시료가 균일하게 채취됨을 확인하였으며, 향후 표면오염도의 평가시 측정자료의 일관성을 확보하게 되었다. | - |
| dc.format.extent | 8 | - |
| dc.language | 한국어 | - |
| dc.language.iso | KOR | - |
| dc.publisher | 한국산업정보학회 | - |
| dc.title | 표면방사선 오염도 측정용 자동 스미어장치의 개발 | - |
| dc.title.alternative | Development of Automatic Smear Equipment for Measuring Surface Radioactivity Contamination | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.publisher.location | 대한민국 | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 한국산업정보학회논문지, v.16, no.4, pp 37 - 44 | - |
| dc.citation.title | 한국산업정보학회논문지 | - |
| dc.citation.volume | 16 | - |
| dc.citation.number | 4 | - |
| dc.citation.startPage | 37 | - |
| dc.citation.endPage | 44 | - |
| dc.identifier.kciid | ART001615370 | - |
| dc.description.isOpenAccess | N | - |
| dc.description.journalRegisteredClass | kci | - |
| dc.subject.keywordAuthor | radioactivity | - |
| dc.subject.keywordAuthor | surface contamination | - |
| dc.subject.keywordAuthor | automatic | - |
| dc.subject.keywordAuthor | smear sampler. | - |
| dc.subject.keywordAuthor | radioactivity | - |
| dc.subject.keywordAuthor | surface contamination | - |
| dc.subject.keywordAuthor | automatic | - |
| dc.subject.keywordAuthor | smear sampler. | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 방사성 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 표면오염도 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 자동화 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 시료채취기 | - |
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Collections - 융합기술공과대학 > Division of Converged Electronic Engineering > Journal Articles
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